{"product_id":"ieej-20240305a00601-006","title":"JEMICにおける赤外放射温度計の面積効果測定方法の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIM24016\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門 計測研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2024\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eConsideration of Size-of-Source Effect Measurement Methods for Infrared Radiation Thermometers at JEMIC\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e小池 真利子(日本電気計器検定所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMariko Koike(Japan Electric Meters Inspection Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e放射温度計測|赤外放射温度計|面積効果|radiation thermometry|infrared radiation thermometer|size-of-source effect\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e赤外放射温度計の校正において、放射温度計の面積効果は校正結果に影響する不確かさの要因の一つである。そのため、校正機関においては赤外放射温度計の面積効果の測定を行えることが望ましい。今回、JEMICにおいて、２種類の手法で面積効果の測定が可能なシステムを構築し、赤外放射温度計の面積効果の評価方法を検討した。これらについて報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eSize-of-source effect (SSE) is one of key factors to estimate uncertainty in calibrating infrared radiation (IR) thermometers. Therefore, it is desirable for calibration laboratories to measure SSE. In this paper, we present the results of SSE measurements by two different methods and discuss which method is more practical in our laboratory.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌: \u003c\/strong\u003e\u003ca href=\"\/products\/ieej-20240305a00601\"\u003e2024年3月8日計測研究会\u003c\/a\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e29-34 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e778 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-P10","offers":[{"title":"冊子印刷（一般価格660円\/会員価格440円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46352554754287,"sku":"IEEJ-20240305A00601-006-PRT","price":660.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46355707658479,"sku":"IEEJ-20240305A00601-006-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-KENKYUKAI_601f2c4b-fae4-4981-8f95-b5ded6d7fbc9.png?v=1743251176","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-20240305a00601-006","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}