{"product_id":"ieej-20240323x10901-007","title":"任意サイズの欠陥検出のためのバンドパスフィルタ特性を有する拡張PaDiMアルゴリズム","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003ePI24007,IIS24032\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 知覚情報\/【D】産業応用部門 次世代産業システム合同研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2024\/03\/23\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eExtended PaDiM Algorithm with Bandpass Filter Characteristics for Arbitrary Size Defect Detection\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e平松 直人(中京大学),村上 尚生(中京大学),小林 大起(中京大学),秋月 秀一(中京大学),橋本 学(中京大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNaoto Hiramatsu(Chukyo University),Naoki Murakami(Chukyo University),Hiroki Kobayashi(Chukyo University),Shuichi Akizuki(Chukyo University),Manabu Hashimoto(Chukyo University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e外観検査|異常検知|ＰａＤｉＭ|ＤｏＧフィルタ|バンドパス|Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ　ｏｆ　Ｇａｕｓｓｉａｎ|Visual inspection|Anomaly detection|PaDiM|DoG filter|Bandpass|Difference of Gaussian\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003ePaDiMはシンプルな構成でありながら，MVTecADを用いた実験にて高精度が報告されているなど注目度が高い．しかし，検出される欠陥サイズを任意に指定することはできず，大きな欠陥や極小の異物など，特定サイズの欠陥のみの検出が必要になる場合には利用しにくい．そこで本研究では，PaDiM の特徴抽出部にバンドパス特性をもつ DoGフィルタを埋め込んだ新手法を提案する．実験の結果，特定サイズの欠陥を98.7の精度で検出可能であることを確認した．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003ePaDiM has attracted much attention because of its simple configuration and the high accuracy reported in experiments using MVTecAD. However, it is not possible to arbitrarily specify the size of defects to be detected, making it difficult to use when only defects of a specific size, such as large defects or very small foreign objects, need to be detected. In this study, we propose a new method in which a DoG filter with band-pass characteristics is embedded in the feature extraction part of PaDiM. Experimental results show that the proposed method can detect defects of a specific size with an accuracy of 98.7.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌: \u003c\/strong\u003e\u003ca href=\"\/products\/ieej-20240323x10901\"\u003e2024年3月26日知覚情報\/次世代産業システム合同研究会\u003c\/a\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e35-40 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e2,927 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-P10","offers":[{"title":"冊子印刷（一般価格660円\/会員価格440円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46352564420847,"sku":"IEEJ-20240323X10901-007-PRT","price":660.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46355716440303,"sku":"IEEJ-20240323X10901-007-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-KENKYUKAI_7f04fe6f-eef5-46a0-a0c2-0d5614416306.png?v=1743252069","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-20240323x10901-007","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}