{"product_id":"ieej-20241029d01601-005","title":"間接電流帰還計装アンプを用いた矩形波渦電流探傷試験の低周波信号補償法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eMZK24013\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】産業応用部門 ものづくり研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2024\/10\/29\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eLow Frequency Signal Compensation Method for Rectangular Wave Eddy Current Testing Using an Indirect Current Feedback Instrumentation Amplifier\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e郭 子維(九州大学),笹山 瑛由(九州大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eZiwei Guo(Kyushu University),Teruyoshi Sasayama(Kyushu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e非破壊検査|矩形波渦電流探傷試験|間接電流帰還計装アンプ|トンネル磁気抵抗素子|低周波|イメージング|nondestructive testing|rectangular wave eddy current testing|indirect current feedback instrumentation amplifier|tunnel magnetoresistive sensor|low frequency|imaging\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e矩形波渦電流探傷試験（RECT）は、複数の信号を同時に取得して導体のきずを識別する非破壊検査法である。RECTにおいて、表皮効果に基づき、深部のきずの検査精度を向上させるために、低周波信号の信号対雑音比を高めることが特に重要である。そこで、間接電流帰還計装アンプを用いたトンネル磁気抵抗素子の補償法を提案する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eRectangular wave eddy current testing (RECT) is a nondestructive testing method that can identify defects in conductive materials by acquiring multiple signals simultaneously. In RECT, it is crucial for increasing the signal-to-noise ratio of low-frequency signals to improve the inspection accuracy of deep defects. Therefore, we propose a compensation method for a tunnel magnetoresistive sensor using an indirect current feedback instrumentation amplifier.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌: \u003c\/strong\u003e\u003ca href=\"\/products\/ieej-20241029d01601\"\u003e2024年11月1日ものづくり研究会\u003c\/a\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e21-26 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e4,022 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-P10","offers":[{"title":"冊子印刷（一般価格660円\/会員価格440円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46352613703919,"sku":"IEEJ-20241029D01601-005-PRT","price":660.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46355790102767,"sku":"IEEJ-20241029D01601-005-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-KENKYUKAI_9eae8e04-c089-4d16-8efb-0d93befb7c2a.png?v=1743254328","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-20241029d01601-005","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}