{"product_id":"ieej-20241111x02901-008","title":"IGBTの短絡破壊耐量に関する考察","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD24047,SPC24185\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス\/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2024\/11\/11\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eConsideration on IGBT short-circuit withstand capability\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e佐藤 伸二(産業技術総合研究所),山口 大輝(産業技術総合研究所),佐藤 弘(産業技術総合研究所),田尾 仁志(小松製作所),黒柳 貴夫(小松製作所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eShinji Sato(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology ),Daiki Yamaguchi(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology ),Hiroshi Sato(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology ),Hitoshi Tao(Komatsu),Takao Kuroyanagi(Komatsu)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eパワーデバイス|ＩＧＢＴ|モジュール|接合温度|短絡電流|破壊メカニズム|Power devece|IGBT|Module|Junction temperature|Destruction mechanism|Short-circuit current\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eIGBTが破壊する条件には過電圧、過電流、過熱などがあります。本稿では、IGBTの短絡耐量とデバイス内部温度の相関関係を実験的に明らかにしました。さらにIGBTの熱拡散時間を定量化することによって、破損を防止する動作条件を定量化しました。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eConditions that can destroy an IGBT include overvoltage, overcurrent, and overheating. In this paper, we experimentally clarified the correlation between the short circuit withstand capability of an IGBT and the internal temperature of the device. Furthermore, we quantified the operating conditions that prevent damage by quantifying the thermal diffusion time of the IGBT.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌: \u003c\/strong\u003e\u003ca href=\"\/products\/ieej-20241111x02901\"\u003e2024年11月14日-2024年11月15日電子デバイス\/半導体電力変換合同研究会-1\u003c\/a\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e41-46 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,992 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-P10","offers":[{"title":"冊子印刷（一般価格660円\/会員価格440円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46352616849647,"sku":"IEEJ-20241111X02901-008-PRT","price":660.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46355800162543,"sku":"IEEJ-20241111X02901-008-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-KENKYUKAI_1cdce0ef-673d-4294-b417-3c49495cdccf.png?v=1743254480","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-20241111x02901-008","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}