{"product_id":"ieej-20241111x02901-010","title":"パワーサイクルセンサを集積化したパワーデバイス構造の試作","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD24049,SPC24187\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス\/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2024\/11\/11\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eFabrication of power device integrated with power cycle sensors\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e大亀 幸樹(九州大学),西澤 伸一(九州大学),齋藤 渉(九州大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKoki Okame(Kyushu University),Shin-ichi Nishizawa(Kyushu University),Wataru Saito(Kyushu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eパワーサイクルセンサ|パワーサイクル劣化|ストレス試験|パワーデバイス|Power cycle sensor|Power cycle degradation|Stress test|Power device\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eパワーサイクルセンサは、デバイスのパワーサイクル劣化を高精度に検出するシステムとして期待されている。本研究では、パワーデバイスの終端領域にセンサーを集積化したチップを作製し、四点曲げ試験機により動作検証を実施した。その結果、従来の研究で確認されたセンサー原理に基づいた動作に加え、センサーが実用環境でも効果的に機能する可能性が示された。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003ePower cycle sensors are expected to be a highly accurate system for detecting device of power cycle degradation. In this research, we fabricated a chip with integrated sensors in the termination region of the power device. Then, the operation was verified by four-point bending test.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌: \u003c\/strong\u003e\u003ca href=\"\/products\/ieej-20241111x02901\"\u003e2024年11月14日-2024年11月15日電子デバイス\/半導体電力変換合同研究会-1\u003c\/a\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e53-56 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,384 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-P10","offers":[{"title":"冊子印刷（一般価格660円\/会員価格440円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46352616915183,"sku":"IEEJ-20241111X02901-010-PRT","price":660.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46355800293615,"sku":"IEEJ-20241111X02901-010-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-KENKYUKAI_3d22aace-0ccf-4b12-ad9d-bf9152298c61.png?v=1743254484","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-20241111x02901-010","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}