{"product_id":"ieej-20250526x14501-007","title":"高精度波長検出に向けたフィルターフリー波長センサのバイアス電圧の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eMSS25064,CHS25039,BMS25026\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【E】センサ・マイクロマシン部門 マイクロマシン・センサシステム\/【E】センサ・マイクロマシン部門 ケミカルセンサ\/【E】センサ・マイクロマシン部門 バイオ・マイクロシステム合同研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2025\/05\/26\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eOptimization of Bias Voltage of Filter-Free Wavelength Sensor for Highly sensitive Wavelength Detection\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e大國 廣人(豊橋技術科学大学),崔 容俊(豊橋技術科学大学),井出 智也(豊橋技術科学大学),木村 安行(豊橋技術科学大学),髙橋 一浩(豊橋技術科学大学),野田 俊彦(豊橋技術科学大学),澤田 和明(豊橋技術科学大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHiroto Okuni(Toyohashi University of Technology),Yong-Joon Choi(Toyohashi University of Technology),Tomoya Ide(Toyohashi University of Technology),Yasuyuki Kimura(Toyohashi University of Technology),Kazuhiro Takahashi(Toyohashi University of Technology),Toshihiko Noda(Toyohashi University of Technology),Kazuaki Sawada(Toyohashi University of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e光センサ|ＣＭＯＳデバイス|フィルタフリー|波長センサ|波長検出|バイアス電圧|Optical Sensors|CMOS Devices|Filter-free|wavelength sensor|Spectrum detection|Bias voltage\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究では、フィルタフリー波長センサの精度向上を目指し、センサ内部のポテンシャル分布の最適化を進めた。まず、耐圧から考察して最適な電圧を検討し、３次元デバイスシミュレータを用いてポテンシャル分布の最適化を実施した。最適化されたバイアス電圧を用いることで、常温の熱エネルギーによって光電子がポテンシャルピークを飛び越えてしまう分離不良領域が改善され、660 nmの光波長において長分解能の向上が確認された。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eThis study aimed to enhance the accuracy of a filter-free wavelength sensor by optimizing its internal potential distribution. We first considered the optimal voltage based on breakdown voltage and then used a 3D device simulator for optimization. The optimized bias voltage improved the separation failure region caused by room-temperature thermal energy of photoelectrons, leading to enhanced wavelength resolution at 660 nm.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌: \u003c\/strong\u003e\u003ca href=\"\/products\/ieej-20250526x14501\"\u003e2025年5月29日-2025年5月30日マイクロマシン・センサシステム\/ケミカルセンサ\/バイオ・マイクロシステム合同研究会\u003c\/a\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ: \u003c\/strong\u003e27-30 p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,625 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-P10","offers":[{"title":"冊子印刷（一般価格660円\/会員価格440円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46474873372911,"sku":"IEEJ-20250526X14501-007-PRT","price":660.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46474901127407,"sku":"IEEJ-20250526X14501-007-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-KENKYUKAI_d447cb3f-cfb1-443a-bd5b-69020883966d.png?v=1747906038","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-20250526x14501-007","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}