{"product_id":"ieej-20251020x02901-010","title":"パワーサイクル劣化検出に向けたLHL法の過渡熱応答解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003eEDD25067,SPC25199\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス\/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/10\/20\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eTransient Thermal Response Analysis in Power Cycling Degradation Detection Using the LHL Method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003e太田 岳宏(九州大学),渡部 毅代登(九州大学),楠 茂(九州大学),中野 智(九州大学),中村 浩二(東京大学),森 時彦(東京大学),桜井 貴康(東京大学),高宮 真(東京大学),西澤 伸一(九州大学),齋藤 渉(九州大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003eTakehiro Ota(Graduate school of Kyushu University),Kiyoto Watabe(Kyushu University),Shigeru Kusunoki(Kyushu University),Satoshi Nakano(Kyushu University),Koji Nakamura(Tokyo University),Tokihiko Mori(Tokyo University),Takayasu Sakurai(Tokyo University),Makoto Takamiya(Tokyo University),Shin-ichi Nishizawa(Kyushu University),Wataru Saito(Kyushu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003eパワーデバイス,伝熱過渡応答解析,パワーサイクル劣化,熱構造関数,ＩＧＢＴ,劣化検出,Power Device,Transient Thermal Response Analysis,Power Cycling Degradation,Thermal Structure Function,Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT),Degradation Detection\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003eパワーサイクル劣化を検出するための手法として，ゲート電圧波形測定(LHL法)が提案されている．本研究では，熱構造関数(熱抵抗・熱容量)からCR等価回路を構築し，LT　Spiceを用いて伝熱過渡応答を解析した．その結果，LHL法による熱抵抗変化測定結果の妥当性を確認すると共に，最適な試験条件を検討した．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語)：\u003c\/strong\u003eA CR equivalent circuit was constructed based on the thermal structure function, which includes thermal resistance and thermal capacitance, and was analyzed using LT Spice to simulate transient thermal responses. The results confirmed the validity of the measurement results for the change in thermal resistance using the LHL method.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌：\u003c\/strong\u003e\u003ca href=\"\/products\/IEEJ-20251020X02901\"\u003e2025年10月23日-2025年10月24日電子デバイス\/半導体電力変換合同研究会-1\u003c\/a\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ：\u003c\/strong\u003e59-64p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別：\u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e1,226Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-P10","offers":[{"title":"冊子印刷（一般価格660円\/会員価格440円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46967983767791,"sku":"IEEJ-20251020X02901-010-PRT","price":660.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46967983800559,"sku":"IEEJ-20251020X02901-010-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-KENKYUKAI_152b1fc5-b72f-45a3-bb0e-e8b56bbd0b8b.png?v=1760579396","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-20251020x02901-010","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}