{"product_id":"ieej-20251209c00201-007","title":"素子電界ベクトル回転法を用いた300 GHz帯フェーズドアレー送信機の素子間遅延差キャリブレーションによる無線通信品質の改善","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003eEDD25096\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/12\/9\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eCalibration of Element Delay Mismatch for Wireless Communication Quality Improvement in a 300 GHz-Band Phased-Array Transmitter Using the Rotating-Element Electric-Field Vector Method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003e村上 翔悟(東京理科大学大学院),高野 恭弥(東京理科大学大学院)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003eShogo Murakami(Tokyo University of Science),Kyoya Takano(Tokyo University of Science)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003e３００　ＧＨｚ,素子間遅延差,素子電界ベクトル回転法,ばらつき補正,フェーズドアレー,無線通信品質,300 GHz,Element Delay Mismatch,Rotating-Element Electric-Field Vector Method,Mismatch Compensation,Phased Array,Wireless Communication Quality\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003e300 GHz帯フェーズドアレー送信機では、素子間の実装ばらつきにより位相および遅延時間にずれが生じ、ビーム形成精度が低下する。本研究では、これらのばらつきを補償する手法として素子電界ベクトル回転法を適用し、キャリブレーションの有効性をシミュレーションで検証した。その結果、位相整合が得られ、SERが0.79から0.44へ改善し、遅延ばらつき下でも高精度なビーム形成が可能であることを確認した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語)：\u003c\/strong\u003eIn a 300 GHz phased-array transmitter, implementation variations cause phase and delay mismatches, degrading beamforming accuracy. This study applies the Rotating Elemental Vector (REV) method to compensate these variations. Simulation results show phase alignment and SER improvement from 0.79 to 0.44, enabling accurate beamforming under delay variation.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌：\u003c\/strong\u003e\u003ca href=\"\/products\/IEEJ-20251209C00201\"\u003e2025年12月12日電子デバイス研究会\u003c\/a\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ：\u003c\/strong\u003e35-37p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別：\u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e1,146Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-P10","offers":[{"title":"冊子印刷（一般価格660円\/会員価格440円） \/ A4 \/ 3","offer_id":47264274153711,"sku":"IEEJ-20251209C00201-007-PRT","price":660.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 3","offer_id":47264274186479,"sku":"IEEJ-20251209C00201-007-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-KENKYUKAI_7c9964ed-6231-4112-bec7-f7329d195903.png?v=1764837174","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-20251209c00201-007","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}