{"product_id":"ieej-asc05029","title":"REBCO薄膜導体における引張り歪み印加時の交流損失特性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eASC05029\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【B】電力・エネルギー部門　超電導応用電力機器研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/06\/16\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAC loss characteristics of REBCO coated conductor under tensile strain\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e関根 直樹(横浜国立大学),鈴木 浩之(横浜国立大学),小高 隼介(横浜国立大学),塚本 修巳(横浜国立大学),Marian Ciszek(Institute of Low Temperature and Structure Research)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNaoki Sekine(YokoharnaNationalUniversity),Hiroyuki Suzuki(YokoharnaNationalUniversity),Shunsuke Odaka(YokoharnaNationalUniversity),Osami Tsukamoto(YokoharnaNationalUniversity),Marian Ciszek(Institute of Low Temperature and Structure Research)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e薄膜導体|交流通電損失|交流磁化損失|歪み|応力\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e768 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46393522290927,"sku":"IEEJ-ASC05029-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_39bd9853-3492-4f5c-9ed2-aeaf5f32d0f4.png?v=1744694241","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-asc05029","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}