{"product_id":"ieej-asc06022","title":"Bi系銀シース線材の引張応力下における交流損失","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eASC06022\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【B】電力・エネルギー部門　超電導応用電力機器研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/06\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAC loss characteristics of Bi2223\/Ag sheathed tapes subjected to mechanical stresses\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e李 兆峰(横浜国大),鈴木 浩之(横浜国大),押田有加 (横浜国大),山岸 一人(横浜国大),塚本 修巳(横浜国大),小川 純(新潟大),Ciszek Marian(ポーランド科学アカデミー)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eZhaofeng Li(Yokohama National University),Hiroyuki Suzuki(Yokohama National University),Yuuka Osuda(Yokohama National University),Kazuhito Yamagishi(Yokohama National University),Osami Tsukamoto(Yokohama National University),Jun Ogawa(Niigata University),Ciszek Marian(Institute of Low Temperature and Structure Research)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e薄膜導体|全交流損失|歪み|応力|Bi-2223\/Ag sheathed wires|Bi-2223\/Ag sheathed wires|total AC loss|strain|tensile stress|measurement\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e427 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46393569575151,"sku":"IEEJ-ASC06022-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_23329338-72a1-4e93-bd20-e08b5cd0c94a.png?v=1744697514","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-asc06022","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}