{"product_id":"ieej-btc205tc041005","title":"MNK問題を用いた多目的遺伝的アルゴリズムの大域的探索性能の評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003eTC4-1-5\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【C】2025年電気学会電子・情報・システム部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/8\/20\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eEvaluation of Global Search Performance of Multi-objective Genetic Algorithm using MNK problems\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003e中野 凌斗（関西大学）,小田 康平　（北陸先端科学技術大学院大学）,花田 良子（関西大学）,折登 由希子（玉川大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003eRyoto Nakano (Graduate School of Science and Engineering, Kansai University),Kohei Oda (Japan Advanced Institute of Science and Technology),Yoshiko Hanada (Kansai University),Yukiko Orito (Tamagawa University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003e多目的遺伝的アルゴリズム,多目的NKモデル,Multi-objective Genetic Algorithm,Multi-objective NK model\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003e本研究では，多目的NKモデルを用いて，多目的遺伝的アルゴリズムの大域探索性能の評価を行う．あらかじめパレート解を求めた2目的，3目的のNKモデルを用いて，それぞれの解の質と収束傾向について検証する．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e本誌掲載ページ：\u003c\/strong\u003e195-199p\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別：\u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e781Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 4","offer_id":47942193676527,"sku":"IEEJ-BTC205TC041005-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bumontaikai_16ffe6e3-2a99-4e3a-a009-98dfd903691a.png?v=1773065090","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-btc205tc041005","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}