{"product_id":"ieej-btd2022r03053020","title":"流量制御器における近接照射法を用いたノイズ耐性向上の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e45736\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】2022年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2022\/08\/30\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eExamination of noise immunity improvement using the near field scan method in the flow controller\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e佐々木 秀勝（東京都立産業技術研究センター）,佐野 宏靖（東京都立産業技術研究センター）,安藤 大志（イワキ）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHidekatsu Sasaki (Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Hiroyasu Sano (Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Hiroshi Ando (IWAKI CO., LTD.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e近接照射法|近接イミュニティ|放射イミュニティ|Near Field Scan Method|Near Field Immunity|Radiated Immunity\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e958 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2.0","offer_id":46404108091631,"sku":"IEEJ-BTD2022R03053020-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_b1843781-bf18-4cc2-86fa-416f6dee5287.png?v=1745047354","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-btd2022r03053020","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}