{"product_id":"ieej-btd2022y040","title":"ダウンコンバージョン法と電流経路可視化技術によるアルミ電解コンデンサの定量劣化評価に向けた一検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eY-40\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】2022年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2022\/08\/30\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Study for Quantitative Degradation Evaluation of Aluminum Electrolytic Capacitors Using Down-conversion Method and Current Path Visualization Technique\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e長嶋 一真（千葉工業大学）,角 真輝（千葉工業大学）,田村 知孝（千葉工業大学）,佐藤 宣夫（千葉工業大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKazusana Nagashima (Chiba Institute of Technology),Masaki Sumi (Chiba Institute of Technology),Tomoyuki Tamura (Chiba Institute of Technology),Nobuo satoh (Chiba Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e電解コンデンサ|ダウンコンバージョン法|電流経路可視化技術|定量劣化技術|electrolytic capacitor|Down-conversion Method|Current Path Visualization Technology|Quantitative Degradation Technology\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e352 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1.0","offer_id":46404159897839,"sku":"IEEJ-BTD2022Y040-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_2698e19b-324d-40cd-ab8a-05f9713c6560.png?v=1745048635","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-btd2022y040","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}