{"product_id":"ieej-btd2025r01141065","title":"マルチチップパワーモジュールの配線網に寄生するインダクタンスの測定技術の提案","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003e1-65\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/8\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eProposal of measurement technique for parasitic inductance in the wiring network of multi-chip power modules\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003e岡村 直哉（岡山大学）,石原 將貴（岡山大学）,梅谷 和弘（九州大学）,坂井 優斗（ローム）,平木 英治（岡山大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003eNaoya Okamura (Okayama University),Masataka Ishihara (Okayama University),Kazuhiro Umetani (Kyushu University),Hiroto Sakai (ROHM),Eiji Hiraki (Okayama University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003e寄生インダクタンス抽出,マルチチップパワーモジュール,シリコンカーバイド(SiC)-MOSFET,Parasitic inductance extraction,Multichip power module,Silicon carbide(SiC)-MOSFET\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別：\u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e1,296Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":47953897914607,"sku":"IEEJ-BTD2025R01141065-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bumontaikai_5b039df2-9af0-4e97-945d-ed4fada035fc.png?v=1773126178","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-btd2025r01141065","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}