{"product_id":"ieej-btd2025s032s0304","title":"Parsevalの定理の視点から捉えるBode線図の高精度化","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003e2-S3-4\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/8\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eUnderstanding Bode Plot Accuracy through Lens of Parseval's Theorem\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003e白石 貴行（鹿児島工業高等専門学校）,逆瀬川 栄一（鹿児島工業高等専門学校）,谷口 康太郎（鹿児島工業高等専門学校）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003eTakayuki Shiraishi (National Institute of Technology, Kagoshima College),Eiichi Sakasegawa (National Institute of Technology, Kagoshima College),Kotaro Taniguchi (National Institute of Technology, Kagoshima College)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003eDFT,Parsevalの定理,システム同定,Bode線図,DFT,Parseval's theorem,System identification,Bode diagram\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別：\u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e1,428Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":47954178212079,"sku":"IEEJ-BTD2025S032S0304-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bumontaikai_351c2006-9928-42de-be79-4008ef90ecb6.png?v=1773130115","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-btd2025s032s0304","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}