{"product_id":"ieej-btd2025y001","title":"SiC\/GaNモータドライブにおけるモータ巻線の絶縁寿命評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003eY-1\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/8\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eInsulation life test for motor windings under SiC\/GaN motor drive\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003e小早川 和希（名古屋工業大学）,松盛 裕明（名古屋工業大学）,小坂 卓（名古屋工業大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003eKazuki Kobayakawa (Nagoya Institute of Technology),Hiroaki Matsumori (Nagoya Institute of Technology),Takashi Kosaka (Nagoya Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003e電動車,絶縁寿命,信頼性,モータ,xEV,insulation,lifetime,motor\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別：\u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e547Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":47954209800431,"sku":"IEEJ-BTD2025Y001-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bumontaikai_b7d66333-4f5d-480c-9c40-c2fede25b9e6.png?v=1773130563","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-btd2025y001","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}