{"product_id":"ieej-btd2025y027","title":"GaNデバイスMHz駆動時の出力容量充放電による損失測定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003eY-27\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/8\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eMeasurement of Losses Due to Charging of Output Capacitance in GaN Devices at MHz Frequencies\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003ePrashobh Arjun（長岡技術科学大学）,山口 正通（長岡技術科学大学）,渡辺　 大貴（長岡技術科学大学）,伊東 淳一（長岡技術科学大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003eArjun Prashobh (Nagaoka University of Technology),Masamichi Yamaguchi (Nagaoka University of Technology),Hiroki Watanabe (Nagaoka University of Technology),Jun-ichi Itoh (Nagaoka University of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003eGaN デバイス,出力容量,カロリー法,GaN device,Output capacitance,Calorimetric power loss measurement\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別：\u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e415Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":47954220974319,"sku":"IEEJ-BTD2025Y027-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bumontaikai_fc0676fb-4b66-48d2-89aa-e16366d8a504.png?v=1773130706","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-btd2025y027","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}