{"product_id":"ieej-btd2025y094","title":"10MHzオーバーサンプリングによるモータ巻線絶縁劣化に起因する浮遊容量検出の定量的評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003eY-94\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/8\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eQuantitative evaluation of stray capacitance detection due to insulation degradation of motor windings using 10 MHz oversampling\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003e原 共生（明治大学）,前川 佐理（明治大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003eTomoki Hara (Meiji University),Sari Maekawa (Meiji University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003e絶縁劣化,PMSM,浮遊容量,リンギング,Insulation degradation,PMSM,Stray capacitance,Ringing\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別：\u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e527Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":47954247942383,"sku":"IEEJ-BTD2025Y094-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bumontaikai_e467b819-946a-4368-9c9d-e2a7afc13157.png?v=1773131069","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-btd2025y094","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}