{"product_id":"ieej-btd2025y104","title":"LSTMを用いたスピニング加工技能獲得における最適化と技能獲得状況の見える化","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003eY-104\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/8\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eOptimizing the Acquisition of Spring Processing Skills Method Using LSTM and Visualization of Skills Acquisition Status\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003e大喜多 隼人（香川高等専門学校）,岡田 大和（香川高等専門学校）,漆原 史朗（香川高等専門学校）,吉岡 崇（香川高等専門学校）,高橋 洋一（香川高等専門学校）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003eHayato Ookita (National Institute of Technology, Kagawa College),Yamato Okada (National Institute of Technology, Kagawa College),Shiro Urusihara (National Institute of Technology, Kagawa College),Takashi Yoshioka (National Institute of Technology, Kagawa College),Yoichi Takahashi (National Institute of Technology, Kagawa College)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003e熟練技能継承,LSTM,最適化,見える化,Expert skill succession,Long short-term memory,Optimization,Visualization of Skil\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別：\u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e704Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":47954252169455,"sku":"IEEJ-BTD2025Y104-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bumontaikai_cbfcb411-2db2-4310-8223-933a5684d902.png?v=1773131127","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-btd2025y104","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}