{"product_id":"ieej-bte2025-11a3-ps-68","title":"線形破壊力学に基づくき裂伝播経路解析の実証実験","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ：\u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No：\u003c\/strong\u003e11A3-PS-68\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名：\u003c\/strong\u003e【E】第42回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日：\u003c\/strong\u003e2025\/11\/3\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語)：\u003c\/strong\u003eDemonstration Experiment of Crack Propagation Path Analysis Based on Liner Elastic Fracture Mechanics\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名：\u003c\/strong\u003e*今市 智大（立命館大学）, 河合 将史（立命館大学）, 鳥山 寿之 （立命館大学）\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語)： \u003c\/strong\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード：\u003c\/strong\u003e移動き裂,き裂先端応力場,単結晶Si,MEMS構造,破壊力学実験,moving crack,crack tip stress field,single crystal silicon,MEMS structures,fracture mechanics testing\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語)：\u003c\/strong\u003e本研究では、単結晶Siの孤立移動転位弾性応力場に基づくモードI 動的き裂先端特異応力場の理論についての実証実験を行う。製作したSi片側き裂試験片に引張荷重を加え、き裂進展の分岐を観察した。実験結果として初期き裂は理論の予測通り、き裂延長方向から52°の方向へ進展したため、理論に妥当性があることを明らかにした。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語)：\u003c\/strong\u003eWe experimentally verified a theory for the Mode I dynamic crack-tip singular stress field, based on the elastic field of a moving dislocation in single-crystal Si. A tensile load was applied to a single-edge-cracked specimen. The crack propagated at 52°, matching the angle predicted, thus demonstrating the theory's validity.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ：\u003c\/strong\u003e888Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":49650058395887,"sku":"IEEJ-BTE2025-11A3-PS-68-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bumontaikai_216ada78-ed50-4146-99da-8ecfd7e2acaa.png?v=1780551647","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-bte2025-11a3-ps-68","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}