{"product_id":"ieej-ct10tc17002","title":"計測分野から見たフィルタ必要論","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eTC17-2\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】平成22年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2010\/09\/02\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eThe necessity of filters for measurement instruments.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e君島正幸 (アドバンテスト)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eAdvantest Corporation()\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eワイアイジーフィルタ|エムエムアイシー|スペクトラムアナライザ|マイクロストリップライン|YIG filter|MMIC|spectrum analyzer|microstrip line\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e広い周波数帯域の高周波信号を分析するRF計測器のフロントエンドにおいて、フィルタによる周波数分離、周波数認識は必須で、フィルタ性能は計測性能に大きく影響する。本公演では、RF計測器の代表格であるスペクトラムアナライザにおける各種RFフィルタ技術について紹介する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e4,062 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46406426231023,"sku":"IEEJ-CT10TC17002-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_f765965a-18cc-467d-ae2e-25c8992fffc0.png?v=1745138034","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ct10tc17002","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}