{"product_id":"ieej-ct13os08004","title":"一枚の登録画像でも撮影角度差にロバストな耳介認証--歪曲収差、解像度変化へのロバスト化--","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eOS8-4\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】平成25年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2013\/09\/04\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSingle-view-based Ear Biometrics robust under pose variation --Improving robustness against barrel-distortion and super-resolution--\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e南谷 崇成(埼玉工業大学),趙 文波(埼玉工業大学),崔 英泰(埼玉工業大学),渡部 大志(埼玉工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakanari Minamidani(Saitama Institute of Technology),Wenbo Zhao(Saitama Institute of Technology),Hideyasu Sai(Saitama Institute of Technology),Daishi Watabe(Saitama Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e耳介認証|収差|超解像超解像\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e筆者らは別姿勢のGabor特徴を直接変換する手法で、一枚の登録画像によるロバスト性の向上を試みてきた。この研究をさらに実用化に近づけるため、現場画像を解析する際にさらに問題となる、歪曲収差の問題、超解像処理画像利用時のロバスト製の向上について検討を試みた。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e3,151 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 3","offer_id":46406499008751,"sku":"IEEJ-CT13OS08004-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_e0ac323f-b317-4fd6-9913-8b765221e6e9.png?v=1745140672","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ct13os08004","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}