{"product_id":"ieej-dei05036","title":"残留電荷測定における線路条件の影響検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eDEI05036\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　誘電・絶縁材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/01\/28\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eStudy on Influence of Line Conditions in Residual Charge Measurement\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e大高 巌(エクシム),辻本 富幸(東京電力),中出 雅彦(東京電力)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eIwao Ootaka(EXSYMCorporation),Tomiyuki Tsujimoto(Tokyo Electric Power Co.),Masahiko Nakade(Tokyo Electric Power Co.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eCV ケーブル|水トリー|劣化診断|残留電荷|GIS 終端|OF\/CV 混在線路\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e800 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46393526550767,"sku":"IEEJ-DEI05036-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_0d806092-0f22-4194-ba5d-4815f0bc3b17.png?v=1744694599","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dei05036","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}