{"product_id":"ieej-dei06080","title":"高温高湿バイアス試験における樹脂絶縁層の劣化現象","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eDEI06080\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　誘電・絶縁材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/12\/18\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDeterioration Phenomenon of Insulation Layers by High Temperature High Humidity Bias Tests\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e岡本 健次(富士電機アドバンストテクノロジー),福永 香(情報通信研究機構),前野 恭(情報通信研究機構)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKenji Okamoto(Fuji Electric Advanced Technology),Kaori Fukunaga(National Institute of Information and Communication Technology),Takashi Maeno(National Institute of Information and Communication Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e金属ベースプリント配線| 高温高湿バイアス試験| 絶縁劣化| 空間電荷| パルス静電応力法| 電界強調\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e721 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46393577144559,"sku":"IEEJ-DEI06080-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_d542770c-8e65-43e7-b108-f1067a842a3c.png?v=1744698070","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dei06080","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}