{"product_id":"ieej-dei06083","title":"イオンマイグレーション試験と評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eDEI06083\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　誘電・絶縁材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/12\/18\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eElectrochemical Migration Test and Evaluation Method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e田中 浩和(エスペック),中村 和裕(新光電気工業),吉村 昇(秋田大学),水戸部 一孝(秋田大学),岡本 健次(富士電機アドバンストテクノロジー),山野 芳昭(千葉大学),藤城敏史(富山県工業技術センター),佐伯和幸(エーディーシー),原口智(東芝),楠川順平(目立製作所),菅原賢一(古河電工)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHirokazu Tanaka|Kazuhiro Nakamura|Noboru Yoshimura|Kazutaka Mitobe|Kenji Okamoto|Yoshiaki Yamano|Satoshi Fujiki\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e環境試験| 電気化学| 水| 電極| 絶縁抵抗| 形状観察\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,229 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46393577242863,"sku":"IEEJ-DEI06083-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a87449b5-93ea-41f0-906f-5332f36ed2dc.png?v=1744698080","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dei06083","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}