{"product_id":"ieej-dei06084","title":"イオンマイグレーションの防止法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eDEI06084\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　誘電・絶縁材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/12\/18\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003ePrevent methods of Ionic migration\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e楠川 順平(日立製作所),加藤 能久(YOKA コンサルティング),山口 文男(日本シイエムケイ),藤城敏史(富山県工業技術センター),原口 智(東芝),依田 正三(日置電機),柳津 武(産業技術総合研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eJunpei Kusukawa|Kato Yoshihisa|Fumio Yamaguchi|Satoshi Fujiki|Satoshi Haraguchi|Shozo Yoda|Takeshi Yana\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eイオンマイグレーション| 電子機器| プリント配線板| 金属| 絶縁材料| 絶縁劣化| めっき\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,260 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46393577275631,"sku":"IEEJ-DEI06084-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a59fc786-80eb-406d-9c55-050b23dbaa4b.png?v=1744698083","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dei06084","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}