{"product_id":"ieej-dei07069","title":"汚損がいしの漏洩電流計測と累積電気量評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eDEI07069\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　誘電・絶縁材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/06\/28\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eCurrent Measurement of Contaminated Insulator for Evaluation of Cumulative Leakage Charge Evaluation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e中村 成吾(静岡大学),今泉 圭一(静岡大学),松本 隆宇(静岡大学),松岡 良輔(中部大学),熊谷 誠治(秋田県立大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eSeigo Nakamura(Shizuoka University),Keiichi Imaizumi(Shizuoka University),Takaie Matsumoto(Shizuoka University),Ryosuke Matsuoka(Chubu University),Seiji Kumagai(Akita Prefectual University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eがいし|漏洩電流|電気量計測装置|劣化|insulator|leakage current|charge measuring instrument|aging\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e558 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46393640059119,"sku":"IEEJ-DEI07069-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a1b362be-b915-4b96-b8b2-efc58ed6ecac.png?v=1744701739","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dei07069","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}