{"product_id":"ieej-dei08051","title":"受配電機器絶縁物の劣化診断・余寿命推定技術","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eDEI08051\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　誘電・絶縁材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/02\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003edegradation diagnosis and life-expectancy presumption technology of the Power Distribution System by the Mahalanobis Taguchi Method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e池守 正(三菱電機),三木 伸介(三菱電機),岡澤周 (三菱電機),梅村 園子(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTadashi Ikemori(Mitsubishi Electric Corporation),Shinsuke Miki(Mitsubishi Electric Corporation),Hiroshi Okazawa(Mitsubishi Electric Corporation),Sonoko Umemura(Mitsubishi Electric Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e劣化診断|絶縁物|遮断器|マハラノビス・タグチ法|化学的評価|Deterioration diagnosis|insulators|breakers|Mahalanobis-Taguchi method|chemical evaluation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,671 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46393711886575,"sku":"IEEJ-DEI08051-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_1728cb8b-1737-48cb-86cc-423f343801a4.png?v=1744704738","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dei08051","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}