{"product_id":"ieej-dt06s012s0105","title":"機器の劣化診断及び余寿命推定技術","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-S1-5\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成18年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/08\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eTechnology of the Diagnosis and the Life Time Estimation of Electrical Equipment \u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e犬島 浩(早稲田大学),吉野 久男(富士電機システムズ),山下 泉(東芝三菱電機産業システム)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHiroshi Inujima(Waseda University),Hisao Yoshino(Fuji Electric Systems Co. Ltd),Izumi Yamashita(Toshiba Mitubishi-Electric Industrial Systems Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e劣化診断|余寿命推定|寿命管理区分|ユビキタス・コンピューティング| Diagnosis| Life-time Estimation| Life-time Management Category| Ubiquitous Computing\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e4,842 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46405213552879,"sku":"IEEJ-DT06S012S0105-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_8b24f026-33d9-4e97-aed1-cb4ed8c4fec1.png?v=1745089351","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt06s012s0105","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}