{"product_id":"ieej-dt06s062s0605","title":"原子間力顕微鏡におけるナノスケールサーボ技術の新展開","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-S6-5\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成18年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/08\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eNovel Nano-scale Servo Technique on Atomic Force Microscope\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e藤本 博志(横浜国立大学),青木 建吾(横浜国立大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHiroshi Fujimoto(Yokohama National University),Kengo Aoki(Yokohama National University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eナノスケールサーボ|原子間力顕微鏡|操作型プローブ|オブザーバ| Nano-scale servo| AFM| scanning probe| observer\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e5,017 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46405215846639,"sku":"IEEJ-DT06S062S0605-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_0787b7db-aeae-447f-97e1-f3e3eee07f15.png?v=1745089470","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt06s062s0605","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}