{"product_id":"ieej-dt06y001","title":"正孔注入型自己バイアスチャネルダイオードの電力損失の温度依存性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eY-1\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成18年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/08\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eTemperature Dependence of a power loss for Hole Injection Type Self-Biased Channel Diode\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e安藤 寛人(東北学院大学),菅原 文彦(東北学院大学),大沼孝一 (東北学院大学),星 秀明(オリジン電気),山口 日出男(オリジン電気)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHiroto Ando(Tohoku Gakuin University),Fumihiko Sugawara(Tohoku Gakuin University),Koichi Ohnuma(Tohoku Gakuin University),Hideaki Hoshi(Origin Electric Corporation),Hideo Yamaguchi(Origin Electric Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e自己バイアス|チャネルダイオード|正孔注入| Self-Bias| Channel Diode| Hole Injection\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e986 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46405223842031,"sku":"IEEJ-DT06Y001-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_92d9833a-a7ff-4f1c-9378-d609967bedd9.png?v=1745089816","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt06y001","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}