{"product_id":"ieej-dt06y112","title":"モデル予測制御の計算量低減法とシステム異常検出","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eY-112\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成18年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/08\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eComputational Complexity Reduction and Fault Detection for Model Predictive Control\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e藤川 昂(青山学院大学),濱根洋人 (青山学院大学),林 洋一(青山学院大学),宮崎 善一(東邦電子)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eGo Fujikawa(Aoyama Gakuin University),Hiroto Hamane(Aoyama Gakuin University),Hayashi Yoichi(Aoyama Gakuin University),Yoshikazu Miyazaki(TOHO Electronics Inc.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e計算量低減|モデル予測制御|システム異常検出|判定区間| Computational Complexity Reduction| Model Predictive Control| Fault Detection| Judgment Horizon\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,219 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46405225873647,"sku":"IEEJ-DT06Y112-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_45fed965-e8e3-4b3c-a985-8456b990224a.png?v=1745089876","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt06y112","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}