{"product_id":"ieej-dt08y002","title":"自己バイアスチャネルダイオードの自己バイアス低下の防止","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eY-2\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成20年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/08\/27\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003ePrevention of Decrease in Self-bias Effect for Self-biased Channel Diode\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e吉田 竜也(東北学院大学),菅原 文彦(東北学院大学),大沼孝一 (東北学院大学),星 秀明(オリジン電気),青木 和幸(オリジン電気),山口 日出男(オリジン電気)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTatsuya Yoshida(Tohoku Gakuin University),Fumihiko Sugawara(Tohoku Gakuin University),Koichi Ohnuma(Tohoku Gakuin University),Hideaki Hoshi(Origin Electric Co.,Ltd.),Kazuyuki Aoki(Origin Electric Co.,Ltd.),Hideo Yamaguchi(Origin Electric Co.,Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e自己バイアスチャネルダイオード|自己バイアス低下|poly-Siスペーサ| Self-biased Channel Diode|Decrease in Self-bias|poly-Si Spacer\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,158 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46405413306607,"sku":"IEEJ-DT08Y002-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_08e327a3-672b-4f87-9438-5a22ef439bb7.png?v=1745094372","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt08y002","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}