{"product_id":"ieej-dt09r01081066","title":"pinダイオードモデルにおけるライフタイム分布の影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-66\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成21年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/08\/31\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEffect of Carrier Lifetime Zoning on pin Diode Model\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e遠山 喬(東京工業大学),冨永 真志(東京工業大学),漆畑 廣明(東京工業大学),藤田 英明(東京工業大学),赤木 泰文(東京工業大学),木ノ内 伸一(三菱電機),大井 健史(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakashi Toyama(Tokyo Institute of Technology),Shinji Tominaga(Tokyo Institute of Technology),Hiroaki Urushibata(Tokyo Institute of Technology),Hideaki Fujita(Tokyo Institute of Technology),Hirofumi Akagi(Tokyo Institute of Technology),Shinichi Kinouchi(Mitsubishi Electric Corporation),Takeshi Oi(Mitsubishi Electric Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003epinダイオード|ライフタイム制御|パワー半導体モデリング| pin diode|Lifetime control|Power semiconductor modeling\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e3,504 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46405428871407,"sku":"IEEJ-DT09R01081066-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_e004ed8f-f820-4774-a914-2dfb5f579f21.png?v=1745095252","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt09r01081066","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}