{"product_id":"ieej-dt09s031s0304","title":"シミュレータのベンチマークテスト","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-S3-4\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成21年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/08\/31\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eBenchmark Test of Simulator\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e木村紀之(大阪工業大学),斉藤亮治(アンソフトジャパン),重松浩一(アンソフトジャパン),庄山正仁(九州大学),徳田寛和(富士電機アドバンストテクノロジー),野田琢(電力中央研究所),山本和男(神戸市立工業高等専門学校),加藤利次(同志社大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNoriyuki Kimura(Osaka Institute of Technology),Ryoji Saito(Ansoft Corporation),Kouichi Shigematsu(Ansoft Corporation),Masahito Shoyama(Kyushu University),Hirokazu Tokuda(Fuji Electric Advanced Technology Co.,Ltd.),Taku Noda(CRIEPI),Kazuo Yamamoto(Kobe City College of Techno)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eシミュレータ|ベンチマークテスト|アナログ・デジタル混在系| Simulator|Benchmark Test|Analog-Digital mixed system\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e3,572 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46405433032943,"sku":"IEEJ-DT09S031S0304-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_81fbbc3e-08a0-4235-a12f-b2d9f0af096f.png?v=1745095506","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt09s031s0304","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}