{"product_id":"ieej-dt09y069","title":"ファインメットが有する残留磁化の影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eY-69\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成21年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/08\/31\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eInfluence on residual magnetic field of the Finemet\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e松岡 信仁(信州大学),田代 晋久(信州大学),脇若 弘之(信州大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eAkihito Matsuoka(Shinshu University),Kunihisa Tashiro(Shinshu University),Hiroyuki Wakiwaka(Shinshu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e残留磁化|磁気シールド|ファインメット| residual magnetic field|magnetic shield|Finemet\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e957 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46405455511791,"sku":"IEEJ-DT09Y069-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_78a75c7e-90ba-4586-a327-fde632e9640b.png?v=1745096961","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt09y069","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}