{"product_id":"ieej-dt10r01091057","title":"デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-57\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成22年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2010\/08\/23\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAnalysis of Reverse-Recovery Characteristics of Parallel-Connected pin Diodes Using a Physics-Based Device Model\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e杉本 貴之(東京工業大学),冨永 真志(東京工業大学),漆畑 廣明(東京工業大学),藤田 英明(東京工業大学),赤木 泰文(東京工業大学),木ノ内 伸一(三菱電機),大井 健史(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakayuki Sugimoto(Tokyo Institute of Technology),Shinji Tominaga(Tokyo Institute of Technology),Hiroaki Urushibata(Tokyo Institute of Technology),Hideaki Fujita(Tokyo Institute of Technology),Hirofumi Akagi(Tokyo Institute of Technology),Shinichi Kinouchi(Mitsubishi Electric Co.),Takeshi Oi(Mitsubishi Electric Co.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e物理モデル|pinダイオード|並列接続|温度条件| Physics model|pin diode|Parallel connection|Temperature conditions\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,841 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46405463965935,"sku":"IEEJ-DT10R01091057-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_20cc8c4f-794a-43b2-b1ef-6600237fcfb3.png?v=1745097502","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt10r01091057","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}