{"product_id":"ieej-dt10y003","title":"高電圧高耐圧パワーデバイスの評価試験装置開発に関する基礎的検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eY-3\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成22年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2010\/08\/23\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eFundamental Study for Development of Estimation System of High Temperature and High Voltage Power Electronics Devices\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e河野大樹 (九州工業大学),小迫雅裕 (九州工業大学),大村一郎 (九州工業大学),匹田 政幸(九州工業大学),Thierry Lebey(ポールサバティエ大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHiroki Kawano(Kyushu Institute of Technology),Masayuki Kozako(Kyushu Institute of Technology),Ichiro Omura(Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita(Kyushu Institute of Technology),Lebey Thierry(Université Paul Sabatier)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e高温|高耐圧|パワーデバイス| High temperature|High Voltage|Power device\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,420 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46405492310255,"sku":"IEEJ-DT10Y003-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_df6bf33d-89d2-4b28-b9e7-bdb2920fcc22.png?v=1745099058","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt10y003","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}