{"product_id":"ieej-dt11r02082060","title":"確率に基づいた固定子巻線の絶縁劣化および短絡診断","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-60\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成23年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/09\/06\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDiagnosis of Insulation Deterioration and Short Circuit Fault in Stator Winding Based on Probability\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e中村 久栄(トーエネック),水野 幸男(名古屋工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHisahide Nakamura(TOENEC Corp.),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e診断|絶縁劣化|短絡|確率| Diagnosis|Insulation deterioration|Short circuit fault|Probability\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,975 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46405531959535,"sku":"IEEJ-DT11R02082060-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_0d9fbba4-71f2-4e31-8862-cf0cce5b2b4c.png?v=1745100725","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt11r02082060","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}