{"product_id":"ieej-dt12r0102041039","title":"対地コンデンサの位置と漏えい電流低減法の効果の関係","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e部門大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-39\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】平成24年電気学会産業応用部門大会講演論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/08\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eRelation between Positions of Grounding Capacitors and Effects of a Technique for the Reduction of Leakage Current\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e綾野 秀樹(東京工業高等専門学校),佐藤優貴 (東京工業高等専門学校),松井 義弘(東京工業高等専門学校)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHideki Ayano(Tokyo National College of Technology),Yuki Sato(Tokyo National College of Technology),Yoshihiro Matsui(Tokyo National College of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eEMI|漏えい電流|コモンモード|対地コンデンサ| EMI|leakage current|common-mode|grounding capacitor\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e6,681 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46405578457327,"sku":"IEEJ-DT12R0102041039-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_263aa9a1-7b12-492e-b6d2-9fea1c5fcd02.png?v=1745103290","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-dt12r0102041039","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}