{"product_id":"ieej-ect05094","title":"400～500MHz 帯電圧モードリング発振回路の試作とその測定系を考慮したSPICE解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT05094\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/12\/16\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Test Chip Fabrication of a 400～500MHz Voltage-Mode Ring Oscillator Circuit and It's SPICE Analysis Considering the System of Measurement\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e竹中 智哉(熊本大学),Felix Timischl(熊本大学),井上 高宏(熊本大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTomoya Takenaka(Kumamoto University),Felix Timischl(Kumamoto University),Takahiro Inoue(Kumamoto University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eリング発振回路|電圧モード|位相雑音\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e624 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46361651871983,"sku":"IEEJ-ECT05094-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_5d2a4bb3-5152-40a7-b615-e8c787b0f35c.png?v=1743609842","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect05094","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}