{"product_id":"ieej-ect06015","title":"DCオフセットによるQエラーを低減可能なQチューニング方式の一構成","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT06015\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/01\/27\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Q-tuning scheme can decrease depending Q-error as for DC offset\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e中村 剛一朗(東京理科大学 理工学研究科 電気工学専攻),兵庫 明(東京理科大学 理工学研究科 電気工学専攻),関根 慶太郎(東京理科大学 理工学研究科 電気工学専攻)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKoichiro Nakamura(Facility of Science and Technology,Tokyo University of Science),Akira Hyogo(Facility of Science and Technology,Tokyo University of Science),Keitaro Sekine(Facility of Science and Technology,Tokyo University of Science)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eQチューニング|Qエラー|fチューニング|連続時間系フィルタ|バンドパスフィルタ\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e651 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46361721372911,"sku":"IEEJ-ECT06015-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_afb80b27-4b7c-4e7a-b3ca-81ddb6c0dfdf.png?v=1743612969","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect06015","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}