{"product_id":"ieej-ect06036","title":"\u003e4GHzATEアプリケーションの為の1.83ps分解能CMOS任意タイミング発生器","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT06036\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/03\/30\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003e1.83ps-Resolution CMOS Dynamic Arbitrary Timing Generator for \u0026gt;4GHz ATE Applications\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e岡安 俊幸(株式会社アドバンテスト),須田 昌克(株式会社アドバンテスト),山本 和弘(株式会社アドバンテスト),寒竹秀介 (株式会社アドバンテスト),須藤 訓(株式会社アドバンテスト),渡辺 大輔(株式会社アドバンテスト)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eToshiyuki Okayasu(Advantest Corporation),Masakatsu Suda(Advantest Corporation),Kazuhiro Yamamoto(Advantest Corporation),Shusuke Kantake(Advantest Corporation),Satoshi Sudou(Advantest Corporation),Daisuke Watanabe(Advantest Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eタイミング発生器|CMOS|半導体試験装置|ジッタ|ドリフト\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e818 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46361724944623,"sku":"IEEJ-ECT06036-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_14bd6608-3c17-40e7-b647-cdcb30a307e9.png?v=1743613062","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect06036","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}