{"product_id":"ieej-ect06044","title":"高感度アクティブ磁界プローブによる2次元ノイズマッピング","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT06044\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/03\/31\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003e2D Noise Mapping with a High-Sensitivity Active Magnetic Probe\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e青山 聡(静岡大学),川人祥二 (静岡大学),山口 正洋(東北大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eSatoshi Aoyama(Shizuoka University),Shoji Kawahito(Shizuoka University),Masahiro Yamaguchi(Tohoku University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eアクティブプローブ|磁界プローブ|近傍磁界測定|ノイズマップ|SOI-CMOS|EMI| EMC\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,285 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46361727238383,"sku":"IEEJ-ECT06044-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_6c532527-1f60-4135-a871-b4651865cd38.png?v=1743613101","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect06044","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}