{"product_id":"ieej-ect06076","title":"ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT06076\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/09\/12\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eComparison of Performance Degradation and Near Field Emission in Electronic Equipment\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e大久保 義和(拓殖大学大学院),高橋 丈博(拓殖大学),作左部 剛視(拓殖大学),澁谷 昇(拓殖大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYoshikazu Ohkubo(Graduate School of Takushoku University),Takehiro Takahashi(Takushoku University),Takashi Sakusabe(Takushoku University),Noboru Schibuya(Takushoku University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e電子機器|EMC|性能低下|イミュニティ|近傍放射|内部電磁干渉\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,205 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361734054127,"sku":"IEEJ-ECT06076-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_b04b0ea8-f8c3-415c-b50c-b9dc4d00e362.png?v=1743613247","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect06076","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}