{"product_id":"ieej-ect07071","title":"トランジスタばらつき簡易モデリングとＳＲＡＭセル動作マージン解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT07071\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/10\/11\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eConcise Modeling of Transistor Variations in an LSI Chip and its application to SRAM Cell Operating Margin Analysis\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e瀬戸 健二(諏訪東京理科大学),青木 正和(諏訪東京理科大学),大川眞一 (ルネサステクノロジ),増田 弘生(ルネサステクノロジ)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKenji Seto(Tokyo University of Science Suwa),Masakazu Aoki(Tokyo University of Science Suwa),Shin-ichi Ohkawa(Renesas Technology Corp),Hiroo Masuda(Renesas Technology Corp)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eトランジスタばらつきモデリング|チップ内ばらつき|トランジスタパラメータ統計解析|SRAMセル動作マージン解析\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eＬＳＩチップ内ＭＯＳトランジスタのＩｄ-Ｖｇ特性のばらつきを,ＭＯＳ　Ｌｅｖｅｌ＿３モデルの３つのトランジスタパラメータ（Ｖｔｈ,β０,ｖＳＡＴ）を用いて,簡潔にモデル化できることを示した。また,これらの統計パラメータを用いて,トランジスタばらつきを含めたＳＲＡＭセル動作マージンのプロセスウィンドウを評価した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eRandom variations in Id-Vg characteristics of MOS transistor in an LSI chip are shown to be concisely characterized by using only 3 transistor parameters (Vth,β0,vSAT) in the MOS level_3 SPICE model. By using the concise statistical parameters, we estimat\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e589 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 10","offer_id":46361935446255,"sku":"IEEJ-ECT07071-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_abc69ff7-f0f5-4ce1-beca-443c70eb760e.png?v=1743616320","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect07071","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}