{"product_id":"ieej-ect08045","title":"低電圧低消費電力CMOSリング発振器試作基板の実験と評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT08045\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/06\/12\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eExperiment and Evaluation of a Low-Voltage Low-Power CMOS Ring Oscillator Test Chip\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e桝永 大輔(熊本大学),Timischl Felix(熊本大学),井上 高宏(熊本大学),常田 明夫(熊本大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eDaisuke Masunaga(Kumamoto University),Timischl Felix(Kumamoto University),Takahiro Inoue(Kumamoto University),Akio Tsuneda(Kumamoto University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eRFID|リング発振器|ゲインブースト|弱反転領域|RFID|Ring Oscillator|Gain Boost|Weak Inversion Region\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e593 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46362099941615,"sku":"IEEJ-ECT08045-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_72a88be7-ae3b-48f9-b1cc-c0415527d47d.png?v=1743619739","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect08045","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}