{"product_id":"ieej-ect08050","title":"位相比較器のオーバーラップ時間の最適化","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT08050\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/06\/13\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eOptimization of overlap duration about phase\/frequency detector\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e吉岡 正浩(東京工業大学),大井 陽一郎(東京工業大学),高木 茂孝(東京工業大学),藤井 信生(東京工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMasahiro Yoshioka(Tokyo Institute of Technology),Youichirou Ooi(Tokyo Institute of Technology),Shigetaka Takagi(Tokyo Institute of Technology),Nobuo Fujii(Tokyo Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003ePFD|ミスマッチ電流|オーバーラップ時間|スプリアス|PFD|Mismatch current|Overlap duration|Spurious\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e547 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46362100236527,"sku":"IEEJ-ECT08050-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_f3766d81-c699-45c6-90b0-f8a299d58ffa.png?v=1743619756","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect08050","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}