{"product_id":"ieej-ect08052","title":"広帯域90°移相回路における素子値ばらつきの一検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT08052\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/06\/13\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSome comments on component sensitivities of wideband 90｡ phaseshifter circuits\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e森山 貴広(北見工業大学),谷本 洋(北見工業大学),山路 隆文(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakahiro Moriyama(Kitami Institute of Technology),Hiroshi Tanimoto(Kitami Institute of Technology),Takafumi Yamaji(Toshiba Corp.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e広帯域90°移相器|RCポリフェーズフィルタ|位相誤差|振幅誤差|素子値ばらつき|統計解析|wideband 90｡ phase shifter|RC polyphase filters|phase error|amplitude error|component variation|statistical simulation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e789 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46362100400367,"sku":"IEEJ-ECT08052-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_48b2685b-4e3b-4629-929b-59b9aaf72957.png?v=1743619774","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect08052","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}