{"product_id":"ieej-ect09001","title":"高速サンプル･ホールド回路用クロックのジッタ測定と応用に関する一検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT09001\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門 電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/01\/22\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eStudy on clock jitter measurement technique for high-speed SH circuit\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e平野太祐 (武蔵工業大学),川村哲志 (武蔵工業大学),堀田正生 (武蔵工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eDaisukeHirano (Musashi Institute of Technology),TetsushiKawamura (Musashi Institute of Technology),MasaoHotta (Musashi Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eサンプル･ホールド回路|クロック･ジッタ|ＡＤ変換器|分周器|Sample and hold circuit|Clock jitter|ADC|Divider\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eA clock jitter measurement technique is proposed. The amount of jitter between two clocks which are outputs of two dividers can be easily estimated by using X-Y mode of a digital oscilloscope. We describe measurement results of the clock jitter and a tech\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e858 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46362190610671,"sku":"IEEJ-ECT09001-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_d11e6228-018e-47e3-ab00-7adfa90b985b.png?v=1743623255","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect09001","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}